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OPTO-EDU A63.7002 Tungsten Filament Scanning Electron Microscope SE BSE 200000x 6nm@18KV(SE)

OPTO-EDU A63.7002 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 SE BSE 200000x 6nm@18KV(SE)

  • Resolution
    6nm@18KV
  • Magnification
    200000x
  • Electron Gun
    Tungsten
  • Voltage
    3-18KV
  • Detector
    BSE+SE
  • Navigation CCD
    CCD
  • Place of Origin
    China
  • 브랜드 이름
    CNOEC, OPTO-EDU
  • 인증
    CE, Rohs
  • Model Number
    A63.7002
  • 문서
  • Minimum Order Quantity
    1 pc
  • 가격
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Packaging Details
    Carton Packing, For Export Transportation
  • Delivery Time
    5~20 Days
  • Payment Terms
    T/T, West Union, Paypal
  • Supply Ability
    5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7002 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 SE BSE 200000x 6nm@18KV(SE)

  • 배율 200000x 해상도 6nm@18KV(SE) 검출기 SE+BSE+CCD, 옵션 EDS 포함
  • 표준 2축 전동 스테이지, 이동 X 40mm, Y 30mm, 최대 시료 Ф50xH35mm
  • 내장형 콘덴서, 수동 조리개 조절 불필요 (LaB6 옵션)
  • 90초 내에 진공을 얻기 위한 기계식 로터리 펌프를 갖춘 고진공 시스템
  • 원터치 자동 초점, 자동 밝기 및 대비 조절, 충격 흡수 테이블 불필요
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OPTO-EDU A63.7002 텅스텐 필라멘트 주사 전자 현미경 SE BSE 200000x 6nm@18KV(SE) 1

뛰어난 성능, 고속 이미징, 다양한 신호 ZEM18 데스크탑 주사 전자 현미경 신호 획득 대역폭 최대 10M, 빠른 스캔 속도, 비디오 모드에서 샘플 실시간 관찰, 고스트 현상 없음, 드래깅 없음, 모든 세부 사항을 놓치지 않음. 다양한 ZEP.TOOLS in-situ 기능성 샘플 스테이지와 호환.

 

주요 사양:

1. 가속 전압: 3-18kV, 연속 조절 가능.

2. 전자총 유형: 사전 정렬된 텅스텐 필라멘트, 수명 100시간, 사용자가 쉽게 교체 가능, 고도로 통합된 2단계 총 렌즈, 대물 렌즈의 조리개를 수동으로 조절할 필요 없음.

3. 배율 ≥200000X

4. 해상도:≤6nm@18KV

5. 검출기: 2차 전자 검출기(SE), 4중 후방 산란 검출기(BSE),

6. 스테이지: 2축 XY 전동 스테이지, 이동 40x30mm (40x40mm 옵션)

7. 최대 시료 크기:  80x42x40mm

8. 시료 교체 및 고진공 펌핑 시간≤ 90초.

9. 고진공 시스템: 내장형 터보 분자 펌프, 외부 기계 펌프,  시료 챔버 내 진공 ≥1x10-1Pa, 완전 자동 제어;

10. 비디오 모드 ≥512x512 픽셀, 작은 창 스캔 불필요.

11. 빠른 스캔 모드: 이미징 시간≤3s, 512x512 픽셀.

12. 느린 스캔 모드: 이미징 시간≤40s, 2048x2048 픽셀.

13. 이미지 파일: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. 원터치 자동 밝기 및 대비 조절, 자동 초점, 대형 이미지 스티칭

15. 탐색 기능: 광학 카메라 탐색 및 캐빈 카메라.

16. 이미지 측정 기능: 거리, 각도 등.

17. 컴퓨터 및 소프트웨어, 마우스 제어 포함.

18. 옵션:

--텅스텐 필라멘트 (20개/상자)

--EDS

--저진공 (1-100Pa)

--Z축, T축 모듈

--감속 모드, 1-10KV, BSE 모드에서만 금속 분사 없이 비전도성 또는 불량 전도성 샘플 관찰 가능

--원래 공장에서 제공하는 In-Situ 스테이지, 가열, 냉각, 스트레칭 등

19. 현미경 크기: 283*553*505mm, 기계 펌프 크기 340*160*140mm

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모델 A63.7001 A63.7002 A63.7003 A63.7004 A63.7005
해상도 10nm@15KV 6nm@18KV 4nm@20KV 3nm@20KV 2.5nm@15KV
배율 150000x 200000x 360000x 360000x 1000000x
전자총 텅스텐 텅스텐 텅스텐 LaB6 Schotty FEG
전압 5/10/15KV 3-18KV 3-20KV 3-20KV 1-15KV
검출기 BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE
탐색 CCD CCD CCD CCD+캐빈 카메라 CCD+캐빈 카메라 CCD+캐빈 카메라
진공 시간 90s 90s 30s 90s 180s
진공 시스템 기계 펌프
분자 펌프
기계 펌프
분자 펌프
기계 펌프
분자 펌프
기계 펌프
분자 펌프
이온 펌프
기계 펌프
분자 펌프
이온 펌프 x2
진공 고진공
1x10-1Pa
고진공
1x10-1Pa
고진공
1x10-1Pa
고진공
5x10-4Pa
고진공
5x10-4Pa
스테이지 XY 스테이지,
40x30/40x40mm
XY 스테이지,
40x30/40x40mm
XY 스테이지,
60x55mm
XY 스테이지,
60x55mm
XY 스테이지,
60x55mm
스테이지 정밀도 - 위치 정확도 5um
작동 거리 5-35mm 5-35mm 5-73.4mm 5-73.4mm 5-73.4mm
최대 시료 80x42x40mm 80x42x40mm 100x78x68.5mm 100x78x68.5mm 100x78x68.5mm
옵션 텅스텐 필라멘트 20개/상자 Lab6 필라멘트 전계 방출 램프
EDS Oxford AZtecOne with XploreCompact 30
- 저진공  1-100Pa 저진공 1-30Pa
- Z축 모듈 3축 스테이지, X 60mm, Y 50mm, Z 25mm
- T축 모듈 3축 스테이지, X 60mm, Y 50mm, T ±20°
- - 5축 스테이지, X 90mm, Y 50mm, Z 25mm, T ±20°, R 360°
- - 충격 흡수 플랫폼, 3축, 5축 스테이지용
- 감속 모드 1-10KV, 비전도성 샘플 관찰, BSE에만 해당
- 원래 공장에서 제공하는 In-Situ 스테이지, 가열, 냉각, 스트레칭 등 
UPS
 
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TTM용 AZtecOne with XploreCompact 30

 

시스템 기존 EDS 분석

이 시스템은 B(5)에서 cf(98)까지 다양한 재료의 정성 및 정량 분석을 제공합니다. 샘플 표면의 개별 포인트 스캔 외에도 강력한 라인 스캔 및 원소 스펙트럼 스캔도 사용할 수 있습니다. 맞춤형 검출기와 결합하여 분석 및 보고를 몇 초 만에 수행할 수 있습니다.

 
유효 결정 면적 30mm2 해상도(사진의) Mn Ka <129eV @50,000cps
원소 검출 범위 B (5) ~ cf (98) 최대 입력 계수율 >1,000,000 cps
 
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